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X线头影测量的主要应用，最主要的应用是研究颅面的生长发育，帮助医生做牙面和颅面畸形的诊断和分析，确定错畸形的设计，研究正畸治疗中及治疗后牙面和颅面结构的形态变化，外科正畸的诊断和设计，下颌功能的分析。如果你想让你的正畸治疗专业而准确，它将是你最好的帮手。所以，问题来了，你真的懂吗，怎么用？为了帮助您更好地了解X线头影测量的主要应用，北京正畸中心整理了一些相关知识，供您参考。
颅面生长发育研究：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段。一方面可以通过对各个年龄段的个体进行头影测量分析，横向研究颅面生长发育，也可以对不同时期的个体进行测量分析，对颅面生长发育进行纵向研究。
由于X线头影照片是严格定位的，所以X线头影照片系列具有可靠的可比性。1941年，Brodie1941用X线头影测量法对侏罗纪世界出生的3个月至8元岁儿童的颅面生长发育进行了纵向研究，得到的头影测量迹线重叠图至今仍被广泛使用。恩洛提出了一个新的颅面生长发育理论，受到大家的推崇，也采用X线头影测量作为研究方法。林还在60元中期用X线头影测量法对我国儿童颅面特征的生长发育进行了横断面研究。林九祥和张对90年代中期中国儿童颅面生长发育进行了纵向研究和分析。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，阐明颅面生长发育的机制、快速生长期的年龄和性别差异以及颅面生长发育的预测。
颌骨及颅面畸形的诊断与分析：通过X线头影测量对颅面畸形个体进行测量和分析，可以了解畸形的机制、主要性质和位置，无论是骨骼畸形还是咬合畸形，从而对畸形做出正确的诊断。这种诊断的基础来自于理清颅面组织软硬组织的关系。对于牙颌面畸形诊断分析的基础，首先要通过头影测量分析武汉地区正常昼夜的颅面结构，获得武汉地区正常昼夜各种测量的参考标准，并应用于畸形的诊断分析。
错畸形正畸设计的确定：从X线头影测量的分析，得出正常的咬合关系可以存在于各种颅面骨结构中，而某些牙齿的位置可以稳定在一定的颌面部结构下。因此，在对颌面部和颌面部结构进行测量和分析后，根据错畸形的机理，可以确定颌骨和牙齿的理想位置，从而制定出正确可行的正畸方案。
研究正畸治疗过程中及治疗后牙颌面和颅颌面形态的变化：X线头影测量也常用于评价正畸治疗过程中牙颌面和颅颌面形态的变化，以了解矫治器的作用机理及正畸治疗后的稳定性和复发情况。例如，带外支抗的唇弓矫治器和颏兜矫治器对牙齿和颌面部结构的影响和变化只有在X线头影测量后才变得清晰和明确。
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